特許

J-GLOBAL ID：200903033774369903

欠陥診断方法とその装置

発明者： 太田 昭男 ,  河野 健二 ,  杉山 大吾
出願人/特許権者： トピー工業株式会社
代理人 (1件)： 田渕 経雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-039342
公開番号（公開出願番号）：特開平11-311617
出願日： 1999年02月18日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：

【要約】【課題】 磁気センサを用いて磁性材料または加工により磁性を帯びるワークの欠陥、余寿命の判定などを静的に非破壊で簡便、高精度に診断する方法とその装置を提供する。【解決手段】 磁気センサ10を、磁性材料または加工により磁性を帯びるワーク20の表面に沿って非接触で移動させて磁性材料または加工により磁性を帯びるワークの微小な磁束密度を検出する。その信号を画像解析して等磁線図を得る方法、あるいはそのようにして得たワーク20の欠陥を診断する方法と、ワークの微小な磁束密度を画像解析して等磁線図を得る装置、あるいは画像解析して得た等磁線図と予め保存してある基準等磁線図とを比較判定するワーク20の欠陥を診断する装置。

請求項（抜粋）：

電流磁気電界効果または電磁誘導作用を利用して磁界を検出する磁気センサを磁性材料または加工により磁性を帯びる材料からなるワークの表面に沿って移動させ、前記磁気センサにより所定ピッチで前記ワークの磁束密度を検出する検出工程と、前記磁気センサの出力をコンピュータに入力し、コンピュータにより前記ワークの磁束密度の等磁線図を作成する等磁線図作成工程と、を有する欠陥診断方法。

IPC (3件)：

G01N 27/83 ,  G01R 33/07 ,  G01R 33/10

FI (3件)：

G01N 27/83 ,  G01R 33/10 ,  G01R 33/06 H