特許
J-GLOBAL ID：200903033786152721
固体撮像素子の欠陥検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
船橋 國則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-121148
公開番号（公開出願番号）：特開平8-317292
出願日： 1995年05月19日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：
【要約】【目的】 欠陥画素についてのデータを記憶しておくデータバンク数を増やすことなく、欠陥補正を効果的に行うことを可能とした固体撮像素子の欠陥補正方法を提供する。【構成】 撮像面が映像として出力される有効画素領域26とそれ以外の無効画素領域27とからなるCCDエリアセンサにおいて、その欠陥画素を検出する際に、有効画素領域26の欠陥画素の検出を無効画素領域27の欠陥画素の検出よりも優先して行うようにする。
請求項（抜粋）：
撮像面が映像として出力される有効画素領域とそれ以外の無効画素領域とからなる固体撮像素子における欠陥画素の検出方法であって、前記有効画素領域の欠陥画素の検出を前記無効画素領域の欠陥画素の検出よりも優先して行うことを特徴とする固体撮像素子の欠陥検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04N 5/335 P
, H04N 5/217
