特許
J-GLOBAL ID：200903033795511769
レーザビーム走査光学装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森下 武一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-174627
公開番号（公開出願番号）：特開平10-020225
出願日： 1996年07月04日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：
【要約】【課題】 簡単な構成のビーム集光状態検出手段を使用するにも拘らず高速走査であってもビーム集光位置を精度よく調整できるレーザビーム走査光学装置を得る。【解決手段】 レーザダイオード1から放射されたレーザビームをフォーカシングレンズ3、ポリゴンミラー6、fθレンズ7を介して感光体ドラム40上に集光すると共に矢印b方向に走査するレーザビーム走査光学装置。走査されたレーザビームは、SOS用光センサ17で検出され、この検出信号から所定時間後にレーザダイオード1はパルス発光制御される。このパルスビームはナイフエッジ法による集光状態検出器10に入射し、ディフォーカス量を検出される。検出されたディフォーカス量に基づいてフォーカシングレンズ3が光軸上で移動し、レーザビームの集光位置を調整する。
請求項（抜粋）：
レーザ光源から放射されたレーザビームを、微小な点に集光すると共に被走査面上を略等速度でライン状に走査するレーザビーム走査光学装置において、前記レーザ光源から放射されたレーザビームの集光位置を調整するための光学素子と、走査されたレーザビームが通過したことを検出して検出信号を発生する検出手段と、前記検出信号の発生から所定時間後に前記レーザ光源をパルス発光させるパルス発光手段と、前記被走査面と光学的に略等価位置に配置されたビーム集光状態検出手段と、前記ビーム集光状態検出手段の検出結果に基づいて前記光学素子を駆動し、レーザビームの集光位置を調整する制御手段と、を備えたことを特徴とするレーザビーム走査光学装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 26/10 Z
, B41J 3/00 D
