特許
J-GLOBAL ID：200903033804015672
粒子粉霧発生器の粉霧形状測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡▲崎▼ 信太郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-071256
公開番号（公開出願番号）：特開平6-258052
出願日： 1993年03月05日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：
【要約】【目的】粒子粉霧発生器から発生される粒子粉霧の形状を、自然の噴射状態で測定もしくは検査でき、その粒子粉霧の形状を常にばらつきなく測定することができる、粒子粉霧発生器の粉霧形状測定装置を提供すること。【構成】粒子粉霧発生器Sから発生される粒子粉霧CMの形状Mを測定するための粉霧形状測定装置であり、上記粒子粉霧発生器Sを設定するための設定手段12と、上記粒子粉霧発生器Sに力を加えて上記粒子粉霧発生器Sから粒子粉霧CMを発生させる粉霧発生手段14と、上記粒子粉霧発生器14から発生される粒子粉霧CMに対して面状の光線62を照射するための光線発生手段16と、上記粒子粉霧CMに照射された上記面状の光線62を撮像する撮像手段18と、上記撮像手段18により得られる粒子粉霧CMの形状Mに関する情報を処理して、粒子粉霧CMの形状Mを測定する画像処理手段92と、を備える粒子粉霧発生器の粉霧形状測定装置。
請求項（抜粋）：
粒子粉霧発生器から発生される粒子粉霧の形状を測定するための粉霧形状測定装置であり、上記粒子粉霧発生器を設定するための設定手段と、上記粒子粉霧発生器に力を加えて上記粒子粉霧発生器から粒子粉霧を発生させる粉霧発生手段と、上記粒子粉霧発生器から発生される粒子粉霧に対して面状の光線を照射するための光線発生手段と、上記粒子粉霧に照射された上記面状の光線を撮像する撮像手段と、上記撮像手段により得られる粒子粉霧の形状に関する情報を処理して、粒子粉霧の形状を測定する画像処理手段と、を備えることを特徴とする、粒子粉霧発生器の粉霧形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G06F 15/62 400
, G06F 15/70 455
