特許

J-GLOBAL ID：200903033822457160

半導体装置

発明者： 矢吹 忍
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-169069
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356667
出願日： 1999年06月16日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：

【要約】【課題】 電源ノイズやクロストークノイズなどの実動作状態に起因するタイミング不良をリアルタイムで検出するとともに、発生場所を特定することができる半導体装置を提供する。【解決手段】 マイクロプロセッサなどの高性能LSIに含まれるフリップフロップ回路部であって、クロック信号CKを用いて通常動作するフリップフロップ回路FF1と、遅延クロック信号DKを用いてタイミング不良検出用として動作するフリップフロップ回路FF2と、このフリップフロップ回路FF1の出力とフリップフロップ回路FF2の出力とを比較する比較回路E-OR1などから構成され、比較回路E-OR1の比較結果信号CmpをLSIの外部から観測し、2つのタイミングにおける入力データDinの不一致(“Hi”)を観測することで、実動作状態での転送タイミング不良を検出することができる。

請求項（抜粋）：

クロック信号に同期して動作する論理回路を有するクロック同期型の半導体装置であって、前記クロック信号を用いて通常動作する第1のフリップフロップ回路と、前記クロック信号を遅延した遅延クロック信号を用いてタイミング不良検出用として動作する第2のフリップフロップ回路と、前記第1のフリップフロップ回路の出力と前記第2のフリップフロップ回路の出力とを比較する比較回路とを有し、前記比較回路の比較結果を観測してタイミング不良を検出することを特徴とする半導体装置。

IPC (5件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 360 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (5件)：

G01R 31/28 V ,  G06F 11/22 310 F ,  G06F 11/22 360 R ,  G01R 31/28 G ,  H01L 27/04 T

Fターム (23件)：

2G032AA03 ,  2G032AA07 ,  2G032AC10 ,  2G032AD06 ,  2G032AE08 ,  2G032AG07 ,  2G032AG10 ,  2G032AH07 ,  2G032AK01 ,  2G032AK16 ,  5B048AA20 ,  5B048CC01 ,  5B048CC19 ,  5B048DD05 ,  5B048DD10 ,  5B048EE02 ,  5F038BH19 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DT06 ,  5F038DT07 ,  5F038DT08 ,  5F038EZ20