特許
J-GLOBAL ID：200903033825449737
比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高野 昌俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-262334
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090201
出願日： 1996年09月12日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 プローブ近傍の測定感度をより均一にすることができる比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方法を提供すること。【解決手段】 時間領域反射率法によって被測定物質の比誘電率を測定するための被測定物質に設置され、パルス電圧が印加される一対の電極を備えたプローブ1において、電極が一定間隔をあけて対向配置される2枚の導電性板状部材2、3から成り、導電性板状部材2、3の幅Bと間隔Sとの比S/Bを0.2から2の範囲内の値とした。これにより、2枚の導電性板状部材の間におけるエネルギー密度分布が均一となり、測定感度を均一にすることができる。
請求項（抜粋）：
時間領域反射率法によって被測定物質の比誘電率を測定するため被測定物質に設置される一対の電極を備えたプローブの構造であって、該一対の電極が一定間隔をあけて対向配置される2枚の導電性板状部材から成り、該導電性板状部材の幅Bと前記一定間隔Sとの比S/Bが0.2から2の範囲内の値に設定されていることを特徴とする比誘電率測定用プローブの構造。
IPC (3件)：
G01N 22/00
, G01R 1/06
, G01R 27/26
G01N 22/00 S
, G01N 22/00 Y
, G01R 1/06 E
, G01R 27/26 H
