特許
J-GLOBAL ID：200903033846272012
高分子の結晶品質を評価する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (6件)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 平山 晃二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-166553
公開番号（公開出願番号）：特開2005-003489
出願日： 2003年06月11日
公開日（公表日）： 2005年01月06日
要約：
【課題】高分子の結晶構造解析に用いる結晶の結晶品質を迅速且つ簡便に評価する方法を開発する。【解決手段】複数の結晶の中から任意の一の標準結晶と他の比較結晶とを選択し、それぞれの比較結晶について次式:を用いてWilson Plotを行い、比較結晶と標準結晶との温度因子の差を求め相対的な比較を行うことにより、比較結晶の結晶品質を評価する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
高分子の構造解析に用いる結晶の結晶品質を評価するための方法であって、Wilson Plotによる見掛けの温度因子を結晶品質評価の尺度に用いることを特徴とする方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001KA08
, 2G001LA01
