特許

J-GLOBAL ID：200903033867314173

半田外観検査装置および半田外観検査方法

発明者： 岸 和弘
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-139434
公開番号（公開出願番号）：特開2003-332730
出願日： 2002年05月15日
公開日（公表日）： 2003年11月21日
要約：

【要約】【課題】電極に塗付された半田のその塗付状態を電極と半田とのコントラストを一層強調して、半田の塗付状態を識別する機能を高めることのできる半田外観検査装置を提供する。【解決手段】外表面が銅または金を主成分とする電極9とこの電極9に塗付された半田10とを含む検査対象に対して紫外光を含む光を照射する照明用光源3と、前記検査対象からの反射光を入射して、前記電極9および半田10を紫外光領域において撮像するカメラ4と、このカメラ4で撮像した画像をもとに半田10の塗付状態の判定を行う判定部5と、を備える半田外観検査装置。

請求項（抜粋）：

照射された所定の紫外光の反射率が50%以下となる金属材を外表面に有する電極と前記電極に塗付された半田とを含む検査対象に対して紫外光を含む光を照射する光源と、前記検査対象からの反射光を入射して前記電極および半田を紫外光領域において撮像または撮影するカメラと、前記カメラで取得された画像をもとに前記半田の塗付状態の判定を行う判定部と、を備えることを特徴とする半田外観検査装置。

IPC (2件)：

H05K 3/34 512 ,  G01N 21/956

FI (2件)：

H05K 3/34 512 B ,  G01N 21/956 B

Fターム (10件)：

2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA01 ,  2G051BA05 ,  2G051BA20 ,  2G051BB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15