特許
J-GLOBAL ID:200903033887028088

モデル検査支援装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (8件): 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-335314
公開番号(公開出願番号):特開2009-157661
出願日: 2007年12月26日
公開日(公表日): 2009年07月16日
要約:
【課題】 モデル検査のためのモデル作成に特別のモデル記述言語の習得を要せず、動作仕様だけでなく制約条件も含んだモデルを作成することのできるモデル検査支援装置を提供する。【解決手段】 システムの動作に関する仕様とシステムに求める性質である制約条件とを表形式の情報として受け取る仕様入力部(1a)と、この表(2,3,4)から抽出した記述に基づいて検証すべきシステムの動作と制約条件とを含んだモデル検査プログラム(6)を生成するモデル生成部(1b,1c)とを備え、表は、システムの状態遷移を記述する状態遷移表(2)と、システムの状態毎に、システム内の構成要素の取り得る値を記述する制約条件表(4)と、状態遷移表に記述したアクションの内容を記述するアクション表(3)とを有するモデル検査支援装置(1)である。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
システムの動作に関する仕様とシステムに求める性質である制約条件とを表形式の情報として受け取る仕様入力部と、 この表から抽出した記述に基づいて検証すべきシステムの動作と制約条件とを含んだモデル検査プログラムを生成するモデル生成部とを備え、 前記表は、 システムの状態遷移を記述する状態遷移表と、 システムの状態毎に、システム内の構成要素の取り得る値を記述する制約条件表と、 前記状態遷移表に記述したアクションの内容を記述するアクション表とを有すること を特徴とするモデル検査支援装置。
IPC (1件):
G06F 11/36
FI (1件):
G06F9/06 620M
Fターム (2件):
5B176EC02 ,  5B176EC07
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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