特許

J-GLOBAL ID：200903033908937318

光走査装置

発明者： 立岡 正道
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-332534
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142489
出願日： 1991年11月20日
公開日（公表日）： 1993年06月11日
要約：

【要約】【目的】 波長の異なる複数の光ビームを用いて被走査面上を1組の走査手段(走査光学系)で同時に光走査することができる光走査装置を得ること。【構成】 複数の発光部を同一のステム28上に設けた光源手段1から射出した波長の異なる複数の光ビームを同一光路を通過させ光学手段30を介して光偏向器4に導光し、該光偏向器で反射偏向させた該複数の光ビームを結像光学系7で集光し、該複数の光ビームを波長分離手段9で分離した後、同一の被走査面上の複数の領域又は各々の光ビームに対応した被走査面19上に導光し、該複数の光ビームで該被走査面上を同時に光走査したこと。

請求項（抜粋）：

複数の発光部を同一のステム上に設けた光源手段から射出した波長の異なる複数の光ビームを同一光路を通過させ光学手段を介して光偏向器に導光し、該光偏向器で反射偏向させた該複数の光ビームを結像光学系で集光し、該複数の光ビームを波長分離手段で分離した後、同一の被走査面上の複数の領域、又は各々の光ビームに対応した被走査面上に導光し、該複数の光ビームで該被走査面上を同時に光走査したことを特徴とする光走査装置。

IPC (4件)：

G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  G03G 15/01 112 ,  H04N 1/04 104

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭58-079215
  
• 特開昭62-091910