特許

J-GLOBAL ID：200903033927068347

表面処理鋼板に形成されたチタン系化成処理皮膜のTi付着量の測定方法

発明者： 吉崎 布貴男 ,  安藤 敦司
出願人/特許権者： 日新製鋼株式会社
代理人 (1件)： 小倉 亘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-158369
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337056
出願日： 2000年05月29日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【目的】 表面処理鋼板の表面に形成されたチタン系化成処理皮膜を蛍光X線分析してTi付着量を測定する際、素地鋼板のTi含有量及びめっき付着量の影響を相殺し、Ti付着量を精度良く測定する。【構成】 チタン系化成処理皮膜が形成された表面処理鋼板の被測定試料をX線照射して蛍光X線強度に基づいてTi付着量を測定する際、定数IBG,A,a,h0及び素地鋼板のTi含有量に依存する定数B,bを予め決定しておき、被測定試料から得られるTi蛍光X線強度IPを式(1)に代入してTi付着量Sを算出する。IP=IB+hS ・・・・(1)IB=IBG+A・Cexp(-aW) ・・・・(2)h=h0+Bexp(-bW) ・・・・(3)ただし、C:素地鋼板のTi含有量, W:めっき付着量

請求項（抜粋）：

チタン系化成処理皮膜が形成された表面処理鋼板の被測定試料をX線照射し、発生した蛍光X線の強度に基づいてTi付着量を測定する際、定数IBG,A,a,h0及び素地鋼板のTi含有量に依存する定数B,bを予め決定しておき、被測定試料から得られるTi蛍光X線強度IPを式(1)に代入してTi付着量Sを算出することを特徴とする表面処理鋼板に形成されたチタン系化成処理皮膜のTi付着量の測定方法。IP=IB+hS ・・・・(1)IB=IBG+A・Cexp(-aW) ・・・・(2)h=h0+Bexp(-bW) ・ ・・・(3)ただし、IP:被測定試料から得られるTi蛍光X線強度C:素地鋼板のTi含有量W:めっき付着量IBG,A,a,h0:定数B,b:素地鋼板のTi含有量に依存する定数

IPC (3件)：

G01N 23/223 ,  C23C 22/40 ,  G01N 33/20

FI (3件)：

G01N 23/223 ,  C23C 22/40 ,  G01N 33/20 Q

Fターム (33件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA02 ,  2G001FA02 ,  2G001FA08 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01 ,  2G001KA09 ,  2G001LA02 ,  2G001MA05 ,  2G001NA15 ,  2G001NA17 ,  2G001RA02 ,  2G001RA03 ,  2G001RA08 ,  2G001RA20 ,  2G055AA07 ,  2G055BA20 ,  2G055CA14 ,  2G055DA08 ,  2G055EA07 ,  2G055EA08 ,  2G055FA04 ,  4K026AA02 ,  4K026AA07 ,  4K026AA12 ,  4K026AA22 ,  4K026BA01 ,  4K026CA18 ,  4K026CA29 ,  4K026CA30 ,  4K026CA31