特許
J-GLOBAL ID:200903033934010842

磁気を帯びた試験対象物の試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 千葉 剛宏 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平3-175496
公開番号(公開出願番号):特開平6-102252
出願日: 1991年07月16日
公開日(公表日): 1994年04月15日
要約:
【要約】【目的】低い残留磁気を帯びた粒子を含む平坦な試験対象物を高信頼性の下に測定する。【構成】磁気を帯びた試験対象物の試験装置において、一つのエアギャップを備えた磁気回路は少なくとも軟磁性部材と永久磁石部材からなる検出器を有し、永久磁石部材により作られる静磁場が磁気回路内に浸透している。エアギャップは好ましくは軟磁性部材の一端と永久磁石部材の一方の極との間に形成される。
請求項(抜粋):
磁気検出器と静磁場内に配置されたエアギャップとを備えた磁気回路を少なくとも一つ有する書類等の磁気を帯びた平坦な試験対象物の試験装置において、前記磁気回路のある部分は軟磁性部材からなり、別のある部分は永久磁石部材からなることを特徴とする磁気を帯びた試験対象物の試験装置。
IPC (3件):
G01N 27/72 ,  G01R 33/12 ,  G07D 7/00
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭63-088697
  • 特開昭56-168282

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