特許

J-GLOBAL ID：200903033948652391

プロセス濁度計

発明者： 安部 勝信 ,  金沢 和
出願人/特許権者： コロナ電気株式会社
代理人 (1件)： 長崎 博男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-193249
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048134
出願日： 1996年07月23日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：

【要約】【課題】セル内の試料液に光束を照射し、入射光に対する透過光又は散乱光の比率から試料液の濁度を求める、鉄濃度モニタのようなプロセス濁度計において、セル内洗浄の回数を減少させ、保守管理の負担の軽減を可能とすること、及び、多系統からの試料液を計測する際の切り換え時間の短縮を可能とすること。【解決手段】濁度測定部Bのセル6をバイパスするバイパス路を有し、試料液の濁度をあらかじめ汚濁水検出部Cで測定し、その測定結果が所定の濃度より大なる場合には自動的にバイパス路を開き、多系統から試料液を液切り換え部Aで切り換えてセルに供給する場合には脱泡槽D内に残存する前段測定時の試料液をバイパス路より排出する制御手段Eを有している。

請求項（抜粋）：

微粒体が高濃度から低濃度の範囲で懸濁する液が試料液として供給される試料液用のセルと、該セルに光束を照射し、入射光に対する透過光又は散乱光の比率を求め前記試料液の濁度を求める濁度測定手段と、前記セルに対する前記試料液の供給、排出を行う試料液給排路とを有するプロセス濁度計において、前記試料液を前記セルをバイパスしてドレインさせるバイパス路と、前記試料液を供給する前記試料液給排路の前記セルの前段に設けられ前記試料液の濃度を測定する汚濁度測定手段と、該汚濁度測定手段の測定結果と所定の濃度との大小関係を判定し自動的に前記バイパス路の開閉を行う制御手段とを有していることを特徴とするプロセス濁度計。

IPC (5件)：

G01N 21/59 ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/15 ,  G01N 21/49 ,  G01N 21/53

FI (5件)：

G01N 21/59 Z ,  G01N 21/05 ,  G01N 21/15 ,  G01N 21/49 A ,  G01N 21/53 Z