特許
J-GLOBAL ID：200903034034341998
テラヘルツ電磁波による粉体物性測定装置および方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
福井 國敞
, 穂坂 和雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-223884
公開番号（公開出願番号）：特開2004-061455
出願日： 2002年07月31日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：
【課題】テラヘルツ電磁波による粉体物性測定装置および方法に関するものであり,電磁波分光により粉体の物理的性状を観測することを目的とする。【解決手段】粉体を保持する手段と,粉体にテラヘルツ電磁波を照射する照射手段と,粉体を通過したテラヘルツ電磁波を受信して電気信号に変換する受信手段と,該受信手段の出力をもとに該粉体を通過するテラヘルツ電磁波の粉体の各位置での伝搬時間の差もしくは振幅の差を取得する手段と,該差に基づいて表示装置に粉体の特徴を表示するための画像処理をする画像処理手段とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
粉体を保持する手段と,粉体にテラヘルツ電磁波を照射する照射手段と,粉体を通過したテラヘルツ電磁波を受信して電気信号に変換する受信手段と,該受信手段の出力をもとに該粉体を通過するテラヘルツ電磁波の粉体の各位置での伝搬時間の差もしくは振幅の差を取得する手段と,該差に基づいて表示装置に粉体の特徴を表示するための画像処理をする画像処理手段とを備え,
粉体の特徴を測定することを特徴とする粉体物性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/35 Z
, G01N21/41 Z
2G059AA02
, 2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB09
, 2G059CC09
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059JJ22
, 2G059JJ24
, 2G059MM08
, 2G059MM09
, 2G059PP04
