特許

J-GLOBAL ID：200903034067267505

CCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の特定方法及びCCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の表示方法

発明者： 佐野 和雄 ,  斉藤 文義 ,  藤山 英子
出願人/特許権者： 大日精化工業株式会社
代理人 (1件)： 赤塚 賢次 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-333427
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139612
出願日： 2001年10月30日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：

【要約】【課題】 作製異常サンプル中の作製異常分を推定すること、及び該作製異常分に基づき正常サンプルと作製異常サンプルとを一見して容易に判別する方法を提供すること。【解決手段】 複数の調色サンプルから作製異常サンプルと正常サンプルとを特定した後において、該作製異常サンプルに対し、作製異常サンプルのシミュレーション誤差ΔRabnと、正常サンプルの各シミュレーション誤差ΔRnorの、各波長における分光反射率の相加平均を示す分光反射率ΔRnor-aveとの各波長における分光反射率の差を示す分光反射率ΔR'abnを求め、該ΔR'abnを前記作製異常サンプルの作製異常分として特定する。

請求項（抜粋）：

複数の調色サンプルから作製異常サンプルと正常サンプルとを特定した後において、該作製異常サンプルに対し、下記式(1)により、RREALnとRCALnとの各波長における分光反射率の差を示す分光反射率を、調色サンプルnのシミュレーション誤差ΔRnと規定するとき、 ΔRn=RREALn-RCALn (1)(RREALn:調色サンプルnの実測分光反射率、RCALn:調色サンプルnのシミュレーション分光反射率)下記式(2)により、ΔRabnとΔRnor-aveとの各波長における分光反射率の差を示す分光反射率ΔR'abnを求め、該ΔR'abnを前記作製異常サンプルの作製異常分として特定することを特徴とするCCMによる作製異常サンプル中の作製異常分の特定方法。 ΔR'abn=ΔRabn-ΔRnor-ave (2)(ΔRabn:作製異常サンプルのシミュレーション誤差、ΔRnor-ave:少なくとも1個の正常サンプルの各シミュレーション誤差ΔRnorの、各波長における分光反射率の相加平均を示す分光反射率)

Fターム (6件)：

2G020AA08 ,  2G020DA05 ,  2G020DA14 ,  2G020DA34 ,  2G020DA35 ,  2G020DA44