特許

J-GLOBAL ID：200903034100103009

光学式形状認識装置

発明者： 中野 孔明 ,  宇佐美 幸彦 ,  鈴木 基之 ,  谷口 喜久 ,  村田 晃 ,  山中 誠二
出願人/特許権者： トヨタ自動車株式会社 ,  テービーテック株式会社 ,  東京貿易株式会社
代理人 (2件)： 吉田 研二 (外2名) ,  金山 敏彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-010219
公開番号（公開出願番号）：特開平5-205051
出願日： 1992年01月23日
公開日（公表日）： 1993年08月13日
要約：

【要約】【目的】 CCDカメラによって得られた2次元グレーレベル画像情報から、ワーク表面の凹凸の実際の値を算出する。【構成】 光源34からの光は、ワーク32の表面で反射され、CCDカメラ36に入射する。画像処理ユニット38は、CCDカメラ36からのグレーレベル画像を入力し、ワーク32上の所定の測定ラインに対する前記画像中の所定の一画素列を抽出し、前記一列中の画素データの平均値を算出する。前記一列中の画素データと前記平均値との差分を、前記一列の光源34方向から、所定の画素位置まで累積加算し、前記所定画素位置の高低情報を得る。この高低情報にワーク32の反射率等による変換係数を乗ずることにより、実寸法値を得る。凹凸の実寸法値が得られ、表面の検査が容易に行える。

請求項（抜粋）：

被検体表面の測定ラインを所定の仰角で斜め方向から照射する光源と、前記測定ラインから反射された反射光を検出し、グレーレベル画像情報を出力する光検出器と、前記グレーレベル画像情報の各画素データの平均値を求める平均値算出手段と、前記それぞれの画素データと前記平均値との差分を、前記測定ラインの一方端に対応する画素から、前記測定ライン上の所定位置に対応する画素まで、累積加算して前記所定位置の高低情報を算出する高低情報算出手段と、前記高低情報に変換係数を乗じ、実寸法値に変換する実寸法化手段と、を備えることを特徴とする光学式形状認識装置。

IPC (4件)：

G06F 15/70 350 ,  G01B 11/24 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/62 415

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-206408
  
• 特開昭62-206408
  
• 特公昭49-010862