特許

J-GLOBAL ID：200903034138972175

金属試料中の元素分析装置

発明者： 植村 健 ,  平野 彰弘 ,  右近 寿一郎
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-196241
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028580
出願日： 1998年07月10日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】 鉄鋼などの金属試料に微量に含まれるC、S、N、Hなどの元素を高感度に定量分析することができる金属試料中の元素分析装置を提供すること。【解決手段】 酸素ガスまたは不活性ガスが択一的に導入される照射セル1内に配置された金属試料3にレーザ光11を照射し、そのとき発生するガスGを質量分析計29に導入して、金属試料3中に含まれる炭素、硫黄、窒素および水素の少なくともいずれか一つを定量分析するようにしている。

請求項（抜粋）：

酸素ガスまたは不活性ガスが択一的に導入される照射セル内に配置された金属試料にレーザ光を照射し、そのとき発生するガスを質量分析計に導入して、金属試料中に含まれる炭素、硫黄、窒素および水素の少なくともいずれか一つを定量分析するようにしたことを特徴とする金属試料中の元素分析装置。

IPC (3件)：

G01N 27/62 ,  G01N 1/28 ,  G01N 33/20

FI (3件)：

G01N 27/62 V ,  G01N 33/20 L ,  G01N 1/28 T

Fターム (9件)：

2G055AA03 ,  2G055BA01 ,  2G055CA22 ,  2G055CA23 ,  2G055CA24 ,  2G055CA27 ,  2G055EA02 ,  2G055EA10 ,  2G055FA07