特許
J-GLOBAL ID：200903034141407160
測光装置、およびこれを備えた分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 稔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-275617
公開番号（公開出願番号）：特開平11-108824
出願日： 1997年10月08日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】 測光装置の温度が上昇してしまうことを回避するとともに、製造コストおよびランニングコストの低減を図る。【解決手段】 光源50から発せられた光を試料に照射し、試料からの反射光または透過光の測光を行う測光装置5において、上記光源50として、白色光を発する白色LEDを用いた。好ましくは、上記白色LEDから発せられた光を分光して所望の波長の光を試料に照射するように、あるいは、試料からの反射光または透過光を分光して所望の波長の光を測光するように構成した。また、上記測光装置5を分析装置1に組み込み、短冊状とされた基材40の表面に長手方向に並ぶようにして、それぞれ所定の成分に特異的に呈色する複数のパッド41が形成された試験片4を分析するように構成した。
請求項（抜粋）：
光源から発せられた光を試料に照射し、試料からの反射光または透過光の測光を行う測光装置であって、上記光源は、白色光を発する白色LEDであることを特徴とする、測光装置。
IPC (4件)：
G01N 21/01
, G01N 21/27
, G01N 21/75
, G01N 33/543 521
G01N 21/01 D
, G01N 21/27 B
, G01N 21/75 Z
, G01N 33/543 521
