特許
J-GLOBAL ID:200903034160244744

干渉計光回路製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-015575
公開番号(公開出願番号):特開2002-221631
出願日: 2001年01月24日
公開日(公表日): 2002年08月09日
要約:
【要約】【課題】 偏光無依存で光路長調整(位相調整)を行うことを目的とする。【解決手段】 基板1上でクラッド層3に屈折率の高いコア部2a,2bが埋設された光導波路を用いて形成される干渉計光回路で、光導波路近傍の局所的な加熱処理により光導波路の実効屈折率が部分的に恒久的に変化する現象を利用して、この干渉計光回路を構成する光導波路の光路長が調整されている干渉計光回路において、この加熱処理領域の幅が、光導波路からクラッド表面までの距離の1.4〜2.6倍であることを特徴とする。
請求項(抜粋):
基板上でクラッド層に屈折率の高いコア部が埋設された光導波路を用いて形成される干渉計光回路で、光導波路近傍の局所的な加熱処理により光導波路の実効屈折率が部分的に恒久的に変化する現象を利用して、この干渉計光回路を構成する光導波路の光路長が調整されている干渉計光回路において、この加熱処理領域の幅が、光導波路からクラッド表面までの距離の1.4〜2.6倍であることを特徴とする干渉計光回路製造方法。
IPC (2件):
G02B 6/13 ,  G02B 6/122
FI (2件):
G02B 6/12 M ,  G02B 6/12 D
Fターム (12件):
2H047KA04 ,  2H047KA12 ,  2H047KB05 ,  2H047LA16 ,  2H047NA01 ,  2H047PA11 ,  2H047QA02 ,  2H047QA04 ,  2H047RA00 ,  2H047RA08 ,  2H047TA11 ,  2H047TA21
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 特開平1-158413
  • 特開昭64-065510
  • 熱光学光変調器
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-227769   出願人:日本電信電話株式会社
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審査官引用 (4件)
  • 特開平1-158413
  • 特開昭64-065510
  • 熱光学光変調器
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-227769   出願人:日本電信電話株式会社
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