特許

J-GLOBAL ID：200903034197111752

3次元物体の自動検査装置および方法

発明者： 大築 康生 ,  上田 澄広 ,  金丸 孝夫 ,  森田 弘文 ,  木村 格 ,  渡邊 義介 ,  大橋 淳志 ,  中村 日出男 ,  南 一 ,  若原 剛人 ,  野村 正利 ,  小柳 晴生
出願人/特許権者： 川崎重工業株式会社 ,  日揮株式会社 ,  株式会社クボタ ,  シャープ株式会社 ,  株式会社新潟鉄工所 ,  ホンダエンジニアリング株式会社 ,  日産自動車株式会社
代理人 (1件)： 西教 圭一郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-241371
公開番号（公開出願番号）：特開平7-098217
出願日： 1993年09月28日
公開日（公表日）： 1995年04月11日
要約：

【要約】【目的】 製品の製造ラインにおける3次元形状をもった検査対象物の外観を自動的に検査し、欠陥を検出したとき、その解析、要因分析を行い、設計・製造の見直しを自動的に行うことができるようにすること。【構成】 検査対象物に関するCAD/CAMなどから設計データを入手し、またセンサおよび照明系さらには画像処理系で検査対象物の特徴を抽出し、こうして検査対象物の同定、認識を行い、こうして同定した検査対象物に対して行うべき計測法および検査法を決定し、センサおよび照明系の位置、姿勢を制御して検査を自動的に行う。さらにこの検査結果から、欠陥の要因分析を行い、設計および製造部門へ検討結果を送出する。

請求項（抜粋）：

検査対象物をハンドリングする手段と、センサ・照明系と、センサや照明装置の位置姿勢を制御する手段と、センサ信号を処理する手段と、対象物の同定・認識を行う第1演算手段と、対象物のデータを外部と通信する手段と、データと認識結果から対象に適した計測法や検査法を決定する第2演算手段とを含むことを特徴とする3次元物体の自動検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  B25J 13/08 ,  G06T 7/00

FI (2件)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/62 415