特許

J-GLOBAL ID：200903034212272946

光学式情報記録再生装置における情報記録媒体の欠陥検査方法

発明者： 後藤 夏弘
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 大澤 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-046590
公開番号（公開出願番号）：特開平6-259768
出願日： 1993年03月08日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：

【要約】【目的】 ディスクの全面欠陥検査(サーティファイ検査)を短時間でできるようにする。【構成】 ディスク初期化の際の全面サーティファイ時に、そのディスクの各セクタに半導体レーザを再生パワーで照射し、その反射光によって得る再生データ信号の振幅が所定の下限レベル以下のミッシングパルスがあったときには、そのミッシングパルスを検出したセクタの記録データを消去して検査データを記録し、それをベリファイして欠陥を検出したときにはそのセクタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録し、上記ミッシングパルスを検出しないセクタについては上記欠陥検出処理を省略することにより、ディスク全体の欠陥検査に要する時間を短縮する。

請求項（抜粋）：

情報記録媒体であるディスクに半導体レーザを用いてデータを記録し、そのデータを読み出して再生する光学式情報記録再生装置において、前記ディスクの初期化として行なうディスクの全面欠陥検査時に、該ディスクの各セクタに前記半導体レーザを再生パワーで照射し、その反射光によって得る再生データ信号の振幅が所定の下限レベル以下のミッシングパルスがあったときには、該ミッシングパルスを検出したセクタに対して記録データを消去して検査データを記録し、それをベリファイして欠陥を検出したときに該セクタを欠陥セクタとして欠陥管理領域に登録することを特徴とする情報記録媒体の欠陥検査方法。

IPC (4件)：

G11B 7/00 ,  G11B 20/10 ,  G11B 20/12 ,  G11B 20/18

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-007566
  
• 特開平2-018764
  
• 特開昭63-018523