特許
J-GLOBAL ID：200903034229910091
液晶表示パネルの表示パターン検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中尾 俊輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-126136
公開番号（公開出願番号）：特開2001-305505
出願日： 2000年04月26日
公開日（公表日）： 2001年10月31日
要約：
【要約】【課題】 誤判定率を低減し、検査精度を向上することのできる液晶表示パネルの表示パターン検査方法を提供すること。【解決手段】 2値画像からなる基準画像BPと2値画像からなる検査画像IPとの排他的論理和XORにより不一致部を抽出した後に、表示パターンの輪郭のずれを吸収する吸収マスクの2値画像からなるマスク画像MPと不一致部との論理積ANDにより欠陥部位を抽出することを特徴としている。
請求項（抜粋）：
液晶表示パネルの表示パターンの欠陥の有無を検査する液晶表示パネルの表示パターン検査方法において、2値画像からなる基準画像と2値画像からなる検査画像との排他的論理和により不一致部を抽出した後に、表示パターンの輪郭のずれを吸収する吸収マスクの2値画像からなるマスク画像と前記不一致部との論理積により欠陥部位を抽出することを特徴とする液晶表示パネルの表示パターン検査方法。
IPC (2件)：
G02F 1/13 101
, G02F 1/1343
G02F 1/13 101
, G02F 1/1343
2H088FA13
, 2H092GA02
, 2H092MA55
, 2H092NA30
