特許

J-GLOBAL ID：200903034243775539

配向均一性評価方法、及び配向均一性評価装置

発明者： 石原 將市 ,  小川 慎司 ,  西山 和廣
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-355612
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156726
出願日： 2001年11月21日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：

【要約】【課題】 配向処理された配向膜の均一性を評価する、安価で、測定の簡便な評価装置を提供する。【解決手段】 その透過軸方向がお互いに直交する2枚の偏光板間に挟持され、かつ、対向する2枚の電極基板間にp型ネマティック液晶(あるいは、n型ネマティック液晶)が封入され水平配向(あるいは、垂直配向)している液晶セルであり、前記液晶の配向方位が前記偏光板透過軸方位と略平行、あるいは略垂直である液晶セルに電圧を印加した時の透過光量の変化でもって配向の均一性を評価することを特徴とする配向均一性評価方法、およびその装置を用いる。

請求項（抜粋）：

その透過軸方向がお互いに直交する2枚の偏光板間に挟持され、かつ、対向する2枚の電極基板間にp型ネマティック液晶が封入され水平配向している液晶セルであり、前記液晶の配向方位が前記偏光板透過軸方位と略平行、あるいは略垂直である液晶セルに電圧を印加した時の透過光量の変化でもって配向の均一性を評価することを特徴とする配向均一性評価方法。

IPC (5件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00 ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/1335 510 ,  G02F 1/1337

FI (5件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00 T ,  G02B 5/30 ,  G02F 1/1335 510 ,  G02F 1/1337

Fターム (31件)：

2G086EE10 ,  2H049BA02 ,  2H049BB03 ,  2H049BC23 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088HA01 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088JA06 ,  2H088MA20 ,  2H090HB08Y ,  2H090JB02 ,  2H090KA06 ,  2H090LA02 ,  2H090LA09 ,  2H090LA16 ,  2H090MA01 ,  2H090MA02 ,  2H090MA16 ,  2H090MB01 ,  2H090MB03 ,  2H090MB06 ,  2H090MB09 ,  2H090MB12 ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FA41Z ,  2H091GA01 ,  2H091GA08 ,  2H091LA30