特許
J-GLOBAL ID:200903034258326889

ポリエーテルケトン樹脂組成物および半導体ウエハ加工・処理用キャリア

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 久保山 隆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-322756
公開番号(公開出願番号):特開平8-253671
出願日: 1995年12月12日
公開日(公表日): 1996年10月01日
要約:
【要約】【課題】剛性、寸法安定性および帯電防止性に優れた半導体ウエハ加工・処理用キャリア、およびこれらを与える成形性に優れたポリエーテルケトン樹脂組成物を提供すること。【解決手段】ポリエーテルケトン樹脂95〜50重量%と液晶ポリエステル5〜50重量%からなる組成物100重量部に対して、平均繊維径5〜20μm、平均繊維長30〜500μmである炭素繊維5〜100重量部を配合してなり、表面固有抵抗値が108 〜1012Ωであるポリエーテルケトン樹脂組成物、及びこの樹脂組成物で成形された半導体ウエハ加工・処理用キャリア。
請求項(抜粋):
ポリエーテルケトン樹脂95〜50重量%と液晶ポリエステル5〜50重量%からなる組成物100重量部に対して、平均繊維径が5〜20μm、平均繊維長が30〜500μmである炭素繊維5〜100重量部を配合してなる、ポリエーテルケトン樹脂組成物。
IPC (8件):
C08L 71/10 LQK ,  C08L 71/10 LQJ ,  C08K 7/06 ,  C08L 67/00 LPF ,  H01L 21/027 ,  H01L 21/68 ,  C08L 71/10 ,  C08L 67:00
FI (6件):
C08L 71/10 LQK ,  C08L 71/10 LQJ ,  C08K 7/06 ,  C08L 67/00 LPF ,  H01L 21/68 T ,  H01L 21/30 566

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