特許
J-GLOBAL ID:200903034265225931

医薬製品の製造の間に粒子上のコーティングをモニターするための方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青山 葆 (外2名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-552077
公開番号(公開出願番号):特表2003-519793
出願日: 2001年01月08日
公開日(公表日): 2003年06月24日
要約:
【要約】単一の粒子(P)上のコーティングの形成をモニターする方法において、所定の空間部位に該粒子(P)を配置するための手段(2、5、6、9)および、コーティングが形成されるようにコーティング液体を粒子(P)に塗布するように適応された液体供給ユニット(3)を備えた、装置が使用される。さらに、この装置は、コーティング上でその形成の間に分光測定を実施するように、およびコーティングに関連する少なくとも一つの主要なパラメータの測定値を取り出すように適応された、測定ユニット(4)を有する。かくして、そのような主要パラメータ、例えば、厚さ、厚さの成長速度ならびにコーティングの品質に関連する物理的および/もしくは化学的性質、ならびに熱、質量および運動量の移動を、単一の粒子(P)上のコーティングプロセスの間に連続的に且つ非侵害的にモニターすることができる。そのような測定の結果を用いて、単一の粒子(P)上のコーティングプロセスを理解し、そして究極的には、工業的でフルスケールのコーティング工場を制御し、スケールアップしそして開発することができる。
請求項(抜粋):
単一の粒子(P)上のコーティングの形成をモニターする方法であって、所定の空間部位に粒子(P)を配置する;該コーティングを粒子(P)上に形成させる;および該コーティングに関連する少なくとも一つの主要パラメータの測定値を得るステップより成り、該測定値が該コーティングを形成する該ステップの間に該コーティング上で分光測定を実施することにより得られることを特徴とする、方法。
IPC (6件):
G01N 21/85 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/33 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/65
FI (6件):
G01N 21/85 A ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 21/33 ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 21/65
Fターム (33件):
2G043AA03 ,  2G043CA05 ,  2G043CA07 ,  2G043DA06 ,  2G043DA08 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043FA03 ,  2G043JA01 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G051AA02 ,  2G051AB12 ,  2G051BA04 ,  2G051BA06 ,  2G051CA04 ,  2G051CB05 ,  2G051CC15 ,  2G059AA05 ,  2G059BB09 ,  2G059BB10 ,  2G059EE03 ,  2G059EE07 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10

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