特許

J-GLOBAL ID：200903034289813087

エネルギー別放射線強度解析装置、媒体、および情報集合体

発明者： 筒井 博司 ,  金子 克幸
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 松田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-217946
公開番号（公開出願番号）：特開2002-040146
出願日： 2000年07月18日
公開日（公表日）： 2002年02月06日
要約：

【要約】【課題】 従来、X線エネルギー別の強度解析を行うことができなかった。【解決手段】 X線を吸収したときにそのX線のエネルギーに応じた量の電子および正孔を発生する、板状の光電変換材料1と、光電変換材料1を挟む、面状の対向電極2および取出し電極3と、対向電極2および取出し電極3を介して光電変換材料1に電圧を印加する電圧印加手段と、その電圧印加手段が印加する電圧の大きさを制御する制御手段と、光電変換材料1で発生した電子または正孔の対向電極2または取出し電極3への到達量を検出する検出手段と、電圧印加手段が印加する複数の電圧の大きさそれぞれについて検出手段によって検出された電子または正孔の量に基づいて、光電変換材料1に入射したX線の複数のエネルギー領域毎の強度を解析する解析手段とを備える。

請求項（抜粋）：

放射線を吸収したときに前記放射線のエネルギーに応じた量の電子および正孔を発生する、板状の光電変換部材と、前記光電変換部材を挟む、面状の2個の電極と、前記2個の電極を介して前記光電変換部材に電圧を印加する電圧印加手段と、前記電圧印加手段が印加する電圧の大きさを制御する制御手段と、前記光電変換部材で発生した前記電子および/または前記正孔の前記2個の電極のうちの一方および/または他方への到達量を検出する検出手段と、前記電圧印加手段が印加する複数の電圧の大きさそれぞれについて前記検出手段によって検出された前記電子および/または前記正孔の量に基づいて、前記光電変換部材に入射した前記放射線の複数のエネルギー領域毎の強度を解析する解析手段とを備えたことを特徴とするエネルギー別放射線強度解析装置。

IPC (6件)：

G01T 1/36 ,  A61B 6/00 333 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/24 ,  H04N 5/32 ,  H04N 7/18

FI (6件)：

G01T 1/36 A ,  A61B 6/00 333 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/24 ,  H04N 5/32 ,  H04N 7/18 L

Fターム (48件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001DA10 ,  2G001FA01 ,  2G001GA03 ,  2G001GA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA06 ,  2G001JA20 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001LA11 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G088EE01 ,  2G088EE27 ,  2G088FF02 ,  2G088FF14 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ32 ,  2G088KK07 ,  2G088KK21 ,  2G088KK32 ,  2G088KK33 ,  2G088KK35 ,  2G088LL05 ,  2G088LL08 ,  2G088LL13 ,  4C093AA01 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA32 ,  4C093FA34 ,  4C093FA59 ,  5C024AX12 ,  5C024CX00 ,  5C024GX06 ,  5C024GY31 ,  5C054AA06 ,  5C054CA02 ,  5C054CC03 ,  5C054HA01 ,  5C054HA12