特許
J-GLOBAL ID：200903034337509514
表示素子検査方式
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
角田 仁之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-248470
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083799
出願日： 1993年09月10日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：
【要約】【目的】 LCDなどの表示画面を読取り、個々の表示画素の光度と複数の表示画素からなる表示むらを評価する検査手段の提供。【構成】 センサ画素111 〜115 の配列面に形成された表示画素の像である像画素101 ,102 とセンサ画素111 〜115 の配列方向を一致させると共に、両画素の対応する画素の数の関係が検査対象となる表示画面の全領域で整数関係になるように構成する。
請求項（抜粋）：
像画素の配列方向に対してセンサ画素の配列方向を平行するように整列させると共に、各々の配列方向に対してそれぞれ独立に、互いに約分できない正の整数をq、rとして、像画素q個の寸法領域に対してセンサ画素r個の寸法領域が対応するように配置して、表示する画面を読取り該表示素子を検査することを特徴とする表示素子検査方式。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G02F 1/13 101
, G06K 7/00
