特許
J-GLOBAL ID：200903034412391486
乾式磁粉探傷法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永田 義人 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-324066
公開番号（公開出願番号）：特開平10-160708
出願日： 1996年12月04日
公開日（公表日）： 1998年06月19日
要約：
【要約】【課題】 被検査材表面に乾式磁粉を均一に分散させずに磁粉模様を確実に形成する。【解決手段】 磁石の両端部の各々を被検査材の表面に対して一定距離離間して保持すると共に、磁石の各端部と被検査材の表面との間に形成された間隙に乾式磁粉を磁力線に沿って穂状に集束させて被検査材を励磁すると同時に、被検査材を電磁石に対し相対的に移動させて、被検査材の欠陥部に磁粉模様を形成させて磁粉探傷を行う。
請求項（抜粋）：
磁石の両端部の各々を被検査材の表面に対して一定距離離間して保持すると共に、磁石の各端部と被検査材の表面との間に形成された間隙に乾式磁粉を磁力線に沿って穂状に集束させて被検査材を励磁すると同時に、被検査材を電磁石に対し相対的に移動させて、被検査材の欠陥部に磁粉模様を形成させることを特徴とする乾式磁粉探傷法。
引用特許：
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