偏光度測定器

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：青山葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-331772
公開番号（公開出願番号）：特開平5-010819
出願日： 1991年12月16日
公開日（公表日）： 1993年01月19日
要約：

【要約】【目的】偏光の度合いを示す偏光度を容易にかつ正確に求める。【構成】偏光方位θ、位相差φを有する被検査対象を透過して得た光強度I(θ,φ)として、I(0,0)、I(90°,0)、I(45°,0)、I(-45°,0)、I(45°,π/2)、I(-45°,π/2)の各値からコヒーレンス行列の行列要素を求めて光線の偏光度を知る偏光度測定器において、回転可能とした偏向子板にてなるアナライザの所定部位に透過させた光を検出する光検知器を備え、該アナライザの回転により、光検知器にて上記6個の光強度が得られるように、アナライザの所定部位に位相子を設ける。

請求項（抜粋）：

被検査対象の光線を偏光方位θの偏光子、位相差φの位相子に透過させて得る光強度I(θ,φ)として、I(0,0)、I(90°,0)、I(45°,0)、I(-45°,0)、I(45°,π/2)、I(-45°,π/2)の各値を検出し、該検出値からコヒーレンス行列Jの行列要素Jxx、Jxy、Jyx、Jyyを求めて前記光線の偏光度を知る偏光度測定器において、同心円に沿って上記の偏光子、又は位相子を重ねた偏光子を備えたアナライザと、前記アナライザを回転させる手段と、前記アナライザの同心円上の一箇所に対して光線をあてる光源と、前記アナライザの回転により、前記光線が入射する試験位置に前記偏光子、又は位相子を重ねた偏光子が来た時、該偏光子、又は位相子を重ねた偏光子を透過した後の光強度I(θ,φ)を検出する光検知器とを備え、前記光検知器にて、上記6種の光強度値を得るべく、上記の偏光子、又は位相子を重ねた偏光子を上記アナライザに配したことを特徴とする偏光度測定器。

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開昭63-293442
特開昭62-197745
特開昭63-208733

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