特許

J-GLOBAL ID：200903034415110666

信号間スキュー診断方法および半導体集積回路

発明者： 風間 秀士 ,  加藤 正隆 ,  入倉 忍 ,  石井 修一
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 大日方 富雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-328828
公開番号（公開出願番号）：特開平9-166650
出願日： 1995年12月18日
公開日（公表日）： 1997年06月24日
要約：

【要約】【課題】 システムの低スキューを保証するには高性能な測定装置が必要となるとともに、診断に時間がかかり、しかも測定の際に使用する治具の影響が大きいため測定誤差が生じ、測定精度を上げることが困難であった。【解決手段】 スキューがあるか否か比較する2つの信号の少なくとも一方を適当な遅延手段を用いて遅延させ、遅延された信号と遅延される前の信号によって比較する他方の信号をラッチして、そのラッチデータに基づいて上記2つの信号のスキューが許容範囲内に入っているか否か判定するようにした。

請求項（抜粋）：

スキューがあるか否か比較する2つの信号の少なくとも一方を適当な遅延手段を用いて遅延させ、遅延された信号と遅延される前の信号によって比較する他方の信号をラッチして、そのラッチデータに基づいて上記2つの信号のスキューが許容範囲内に入っているか否か判定するようにしたことを特徴とする信号間スキュー診断方法。

IPC (3件)：

G01R 31/319 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (2件)：

G01R 31/28 R ,  H01L 27/04 T