特許

J-GLOBAL ID：200903034461418586

粒径計測装置

発明者： 小沢 金吾 ,  木下 勝年
出願人/特許権者： 株式会社トキメック
代理人 (1件)： 石戸 元 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-228605
公開番号（公開出願番号）：特開平11-063938
出願日： 1997年08月25日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：

【要約】【課題】 粒子が隙間なく重なり合っているような粒状被検体に対しても適用することができ、計算コストを低減させることができる粒径計測装置とする。【解決手段】 粒状被検体10を撮像して画像信号を出力するCCDカメラ14と、CCDカメラ14からの画像信号をA/D変換するA/D変換器16と、前記A/D変換された画像信号の明度の平均値を算出する平均値算出部40と、前記A/D変換された画像信号が水平方向または垂直方向においてある平均値を跨って変化するときのその画素を変化点として検出する変化点検出部17と、変化点として検出された画素の数を計数する計数する計数部30と、計数部30によって計数された画素数に基づいて粒状被検体10の粒径を算出する粒径算出部32と、を備える。

請求項（抜粋）：

粒状被検体の粒径を計測する粒径計測装置であって、粒状被検体を撮像して画像信号を出力する撮像手段と、前記撮像手段からの画像信号をA/D変換するA/D変換器と、前記A/D変換された画像信号の明度の平均値を算出する平均値算出手段と、前記A/D変換された画像信号から明度が所定の方向において前記平均値または平均値に基づいて設定された複数の設定値のうちの特定の1つの設定値を跨って変化するときのその画素を変化点として検出する変化点検出手段と、変化点検出手段で変化点として検出された画素の数を計数する計数手段と、前記計数手段によって計数された画素数に基づいて粒状被検体の粒径を算出する粒径算出手段と、を備えることを特徴とする粒径計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/08 ,  G06F 17/18 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01B 11/08 H ,  G06F 15/36 A ,  G06F 15/62 395