特許

J-GLOBAL ID：200903034523305945

スキャンパステスト方法

発明者： 山内 尚
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 堀 城之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-153473
公開番号（公開出願番号）：特開2002-351694
出願日： 2001年05月23日
公開日（公表日）： 2002年12月06日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、遅延テストを回路オーバーヘッドを伴うことなく、複雑な操作なしに行い、順序回路のテストを複雑な設定を行うことなく実施することの可能なテスト方法及び回路を提供する。【解決手段】 境界フリップフロップの設定値を、最初のクロックサイクルでの設定値とし、以後順次、シフト経路を1段ずつシフトした値を次のクロックサイクルでの制約値として設定し、制約値と矛盾を生じないことを検証した次のクロックサイクルのテストのための設定値を次のクロックサイクルの境界フリップフロップの設定値として設定してゆき、テストに必要なクロックサイクルに渡って繰り返し求めてテストパタンとして設定し、シフト経路を通してシフトモードのまま連続して被テスト回路に与えた後に、通常回路の値を取り込むモードに切り替え、複数のクロックサイクルでのテスト結果の値をシフトして端子より観測する。

請求項（抜粋）：

フリップフロップにシフト経路を設け、前記シフト経路を通して被テスト回路に値を設定し、テストするスキャンパステスト方法であって、一度のテストを行うために連続した複数のクロックサイクルが必要なテストを行う場合に、テスト開始時のクロックサイクルの被テスト回路のテストのために直接値を設定する必要のある被テスト回路との境界に位置する境界フリップフロップの設定値を、最初のクロックサイクルでの前記境界フリップフロップの設定値とし、以後順次、前記シフト経路を1段ずつシフトした値を次のクロックサイクルでの前記境界フリップフロップの制約値として設定し、前記制約値と矛盾を生じないことを検証した前記次のクロックサイクルのテストのための設定値を前記次のクロックサイクルの前記境界フリップフロップの設定値として設定してゆき、前記被テスト回路のテストに必要なクロックサイクルに渡って繰り返し求め、一度のテストを行うためのテストパタンとして設定し、前記テストパタンを前記シフト経路を通し、シフトモードのまま連続して、被テスト回路に与えた後に、通常回路の値を取り込むモードに切り替え、複数のクロックサイクルでのテスト結果を取り込み、該結果の値をシフトして端子より観測することを特徴とするスキャンパステスト方法。

IPC (3件)：

G06F 11/22 360 ,  G06F 11/22 310 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G06F 11/22 360 P ,  G06F 11/22 310 B ,  G01R 31/28 G

Fターム (10件)：

2G132AA05 ,  2G132AA09 ,  2G132AC14 ,  2G132AD07 ,  2G132AE23 ,  2G132AG08 ,  2G132AG12 ,  2G132AL09 ,  5B048AA20 ,  5B048CC18