特許

J-GLOBAL ID：200903034590561646

分析装置と分析装置の測光方法

発明者： 村上 峰雪
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-023820
公開番号（公開出願番号）：特開2007-205816
出願日： 2006年01月31日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：

【課題】反応容器に保持された液体の位置に合わせて測光位置を制御可能とした分析装置と分析装置の測光方法を提供すること。【解決手段】容器7に保持された液体の光学的特性を測定する分析装置1と分析装置の測光方法。分析装置は、液体の光学的特性を測定する測光部10と、容器7内において液体が保持される位置をもとに測光部10が液体を測光する測光位置を制御する制御部16とを備えている。分析装置の測光方法は、容器7内において液体が保持される位置をもとに液体を測光する測光位置を制御する工程と、制御された測光位置において液体を測光する工程とを含む。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

容器に保持された液体の光学的特性を測定する分析装置において、 前記液体の光学的特性を測定する測光手段と、 前記容器内において前記液体が保持される位置をもとに前記測光手段が前記液体を測光する測光位置を制御する制御手段と、 を備えることを特徴とする分析装置。

IPC (1件)：

G01N 35/02

FI (2件)：

G01N35/02 G ,  G01N35/02 D

Fターム (11件)：

2G058CB04 ,  2G058CD04 ,  2G058EA02 ,  2G058EA04 ,  2G058EB01 ,  2G058FA01 ,  2G058FB02 ,  2G058FB12 ,  2G058GA02 ,  2G058GB10 ,  2G058GE04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 自動分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-314416   出願人：株式会社日立製作所