特許
J-GLOBAL ID:200903034607525681

過電流保護装置の試験回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高田 守
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-069965
公開番号(公開出願番号):特開平6-284551
出願日: 1993年03月29日
公開日(公表日): 1994年10月07日
要約:
【要約】【目的】 経済性良くオンライン試験を行うようにする。【構成】 各相の電流がアナログオア回路11aから11cに供給されており、運用時はその信号の大きさがマイクロプロセッサ6で判断されて、異常であるか否かが判断される。試験時は試験をする相のアナログオア回路11に試験信号も供給され、レベルの大きい方の信号が出力されその相の試験が行われるが、他の2つの相は電流監視が行われているので、オンライン試験が行える。
請求項(抜粋):
3相交流の電路に流れる過電流を検出したときその電路の電流を遮断して電源および負荷を保護する過電流保護装置の動作試験を行う過電流保護装置の試験回路において、試験時に試験信号を発生する試験信号発生回路と、前記3相交流の各相を流れる電流値に対応した電流検出信号を発生する電流検出手段と、前記電流検出信号に前記試験信号をアナログ加算してレベルの大きい方の信号を出力するアナログオア回路を各相毎に設けたことを特徴とする過電流保護装置の試験回路。
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平4-359619
  • 特開昭61-046111
  • 特開昭52-085347

前のページに戻る