特許

J-GLOBAL ID：200903034607763639

大気圧イオン化質量分析装置

発明者： 加藤 義昭
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2001010266
公開番号（公開出願番号）：WO2003-046543
出願日： 2001年11月26日
公開日（公表日）： 2003年06月05日
要約：

本発明は、様々な流量のLCに対して平等に高感度測定を可能とすることを目的とし、試料溶液を大気圧下でイオン化する大気圧イオン源(4)と排気された空間でイオンの質量分析を行う質量分析部を隔てる隔壁(11)に、中空の細管を有し、前記大気圧イオン源で生成されたイオンを前記細管を介して前記質量分析部に導き、質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、前記細管を、径の異なる第1の細管(8)及び第2の細管(10)とで構成し、第2の細管を第1の細管内に挿入し、前記大気圧イオン源で生成したイオンとガスを第2の細管を通して質量分析部に導入すると共に、前記第2の細管と第1の細管の間隙にガスを流すようにする。

請求項（抜粋）：

試料溶液を大気圧下でイオン化する大気圧イオン源と、排気された空間でイオンの質量分析を行う質量分析部と、前記大気圧イオン源と前記質量分析部を隔てる隔壁に中空の細管とを有し、前記大気圧イオン源で生成されたイオンを前記細管を介して前記質量分析部に導き、質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、 前記細管は、径の異なる第1の細管及び第2の細管とで構成され、第2の細管は第1の細管内に挿入され、前記大気圧イオン源で生成したイオンとガスを第2の細管を通して前記質量分析部に導入すると共に、前記第2の細管と前記第1の細管の間隙にガスを流すことを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J49/10 ,  G01N27/62 ,  H01J49/04

FI (4件)：

H01J49/10 ,  G01N27/62 F ,  G01N27/62 X ,  H01J49/04