最小作動電圧を判定するための自己試験回路

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：上野剛史 , 太佐種一 , 市位嘉宏 , 坂口博
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-511344
公開番号（公開出願番号）：特表2008-545120
出願日： 2006年05月11日
公開日（公表日）： 2008年12月11日
要約：

【課題】論理アレイとメモリ・アレイとの両方を含む被試験電圧アイランドを有するICの最小作動電圧を判定するための自己試験システム及び方法を提供すること。【解決手段】性能/電力要件による最小作動電圧を判定するためのソリューションは、広い範囲の実際の使用に有効となる。このソリューションは、BIST回路(50)により、アプリケーション性能を維持しながら適用条件下での電力消費を動的に減らすためのテストフロー法を含む。適用条件下で、データ/状況情報を維持するのに依然として充分な、最低限のスタンバイ/超低電力レベルにまで電力消費を動的に減らすためのテストフロー法がさらに提供される。1つの可能性のある用途は、ASIC(特定用途向け集積回路)上の特定の回路群への電圧供給(25)を制御することに関するものである。これらの回路は、電圧アイランド(20)として共にグループ分けされ、れらは、同じチップ上の他の回路が受け取る電圧供給とは異なる電圧供給(25)を受け取ることになる。同じソリューションは、マイクロプロセッサの一部(例えばキャッシュ論理制御)に適用することができる【選択図】図1

請求項（抜粋）：

半導体チップの最小作動電圧を動的に変化させるためのシステムであって、特定のアプリケーションに従って作動する回路を有する被試験電圧アイランド(VIUT)と、前記電圧アイランドの回路にソース電圧を供給する調整電圧供給部と、前記電圧アイランドへのソース電圧レベルを設定するための制御手段と、前記被試験電圧アイランドに作動的に結合され、前記回路を試験してBIST試験をパスするのに前記電圧アイランドによって要求される最低作動電圧を判定し、前記最低作動電圧を表す制御信号を生成する、ビルト・イン・セルフ・テスト(BIST)試験手段と、を備え、前記制御手段が、前記制御信号に応答して、前記電圧アイランドへの電圧レベルを前記最低作動電圧に設定する、システム。

IPC (3件)：

G01R 31/28 , H01L 21/822 , H01L 27/04

FI (2件)：

G01R31/28 V , H01L27/04 T

Fターム (22件)：

2G132AA00 , 2G132AA15 , 2G132AD01 , 2G132AK07 , 2G132AK29 , 2G132AL00 , 5F038BB04 , 5F038CD17 , 5F038DF03 , 5F038DF04 , 5F038DF05 , 5F038DF08 , 5F038DT08 , 5F038DT10 , 5F038DT15 , 5F038DT18 , 5F038EZ20 , 5H420NA23 , 5H420NB02 , 5H420NB23 , 5H420NB24 , 5H420NC18

引用特許：

出願人引用 (5件)

米国特許第6,345,362号。
米国特許第6,477,654号。
米国特許第5,086,501号。

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