特許
J-GLOBAL ID：200903034643118316
品質検査方法および品質検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三宅 景介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-151853
公開番号（公開出願番号）：特開平9-311030
出願日： 1996年05月24日
公開日（公表日）： 1997年12月02日
要約：
【要約】【課題】 欠陥箇所を高精度に検出し、不使用部分や重要でない部分に欠陥があるだけでは全体を廃棄処理する無駄をなくし、しかも、欠陥箇所の評価を柔軟に行って廃棄対象を最小限に止め、経済性を向上させる。【解決手段】 枚葉印刷物1の被検査面を撮像して作成した多階調エリア画像と基準多階調エリア画像との対応部分の濃度レベルを比較し、この比較結果から許容値をもとに欠陥箇所を判定する。濃度レベルの比較結果から許容値をもとに欠陥箇所を判定するので、被検査面の地色の濃淡や凹凸形状等の条件に左右されることなく、欠陥箇所を検出することができ、また、欠陥箇所の評価を柔軟に行うことができる。また、比較に際し、被検査多階調エリア画像における包装箱構成体2以外の不使用部分や、包装箱構成体2における使用に際して隠れるなどにより重要でない部分等、検査不要部分についてはマスク処理70して検査対象から除去する。
請求項（抜粋）：
被検査物を撮像手段により撮像し、上記撮像手段から出力される多階調の画像データをもとに多階調エリア画像を作成し、この被検査多階調エリア画像における検査不要部分についてはマスク処理して検査対象から除去し、上記被検査多階調エリア画像における検査必要部分の各部の濃度レベルを基準多階調エリア画像の対応する各部の濃度レベルと比較し、この比較結果から各判定レベルにおける許容値をもとに欠陥箇所を判定する品質検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/30 Z
, G01N 21/88 J
