特許

J-GLOBAL ID：200903034677154290

欠陥画素修正装置及び欠陥画素修正方法

発明者： 鈴木 宏昌
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 中島 淳 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-181604
公開番号（公開出願番号）：特開平11-027523
出願日： 1997年07月07日
公開日（公表日）： 1999年01月29日
要約：

【要約】【課題】 画像センサの歩留りを良くすると共に、塵、埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の画像データを修正することができる欠陥画素修正装置及び欠陥画素修正方法を得る。【解決手段】 暗電流補正部124によりエリアCCDスキャナ12を構成するエリアCCDの暗電流値を、シェーディング補正部128により上記エリアCCDのシェーディングデータを、各々画素毎に測定すると共に、測定された暗電流値、及びシェーディングデータに基づいて欠陥画素補正部130によりエリアCCDの画素毎の欠陥画素の判定を行って該判定結果を予めメモリ131に記憶しておき、実際にエリアCCDスキャナ12により処理対象とする画像データが入力された場合には、上記により記憶しておいた欠陥画素の判定結果に基づいて、欠陥画素補正部130により欠陥補正対象画素を特定し、該欠陥補正対象画素の画像データを該欠陥補正対象画素の前後画素の画像データに基づいて生成する。

請求項（抜粋）：

画像を複数画素に分割して読み取り画素毎に画像データを出力する画像センサの画素毎の暗電流値を測定する暗電流測定手段と、前記画像センサの画素毎のシェーディングを補正するためのシェーディングデータを測定するシェーディング測定手段と、前記暗電流測定手段により測定された暗電流値が所定値以上であるか否かの判定、及び前記シェーディング測定手段により測定されたシェーディングデータが所定範囲外か否かの判定、の少なくとも一方の判定に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画像データを該欠陥画素の周辺画素の画像データに基づいて生成する欠陥画素補正手段と、を備えた欠陥画素修正装置。

IPC (4件)：

H04N 1/40 ,  G06T 1/00 ,  H04N 1/401 ,  H04N 1/407

FI (5件)：

H04N 1/40 101 G ,  G06F 15/64 400 D ,  G06F 15/64 400 E ,  H04N 1/40 101 A ,  H04N 1/40 101 B