特許

J-GLOBAL ID：200903034703890145

セラミックハニカム構造体表面のクラック検出方法

発明者： 染次 孝博
出願人/特許権者： 日立金属株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-002460
公開番号（公開出願番号）：特開2003-207472
出願日： 2002年01月09日
公開日（公表日）： 2003年07月25日
要約：

【要約】【課題】 セラミックハニカム構造体の表面、特に端面に発生する微細なクラックを確実に検出する方法を提供する。【解決手段】 隔壁により仕切られた多数のセルを有するセラミック製ハニカム構造体に温度勾配を発生させ、セルが開口する端面の表面温度分布を測定し、得られた温度分布からセル配置に伴う特有の周期的温度変化分を取り除き、その後の温度分布にクラックの特徴を強調する選択処理を行ってクラックを顕在化させることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

隔壁により仕切られた多数のセルを有するセラミック製ハニカム構造体に温度勾配を発生させ、表面温度分布を測定し、得られた温度分布にクラックの特徴を強調する選択処理を行ってクラックを顕在化させることを特徴とするセラミックハニカム構造体表面のクラック検出方法。

IPC (2件)：

G01N 25/72 ,  B01D 39/20

FI (2件)：

G01N 25/72 Y ,  B01D 39/20 D

Fターム (16件)：

2G040AA06 ,  2G040AB08 ,  2G040BA02 ,  2G040BA25 ,  2G040CA02 ,  2G040CA23 ,  2G040DA06 ,  2G040DA12 ,  2G040EB02 ,  2G040HA02 ,  2G040HA11 ,  4D019AA01 ,  4D019BA05 ,  4D019BB06 ,  4D019CA01 ,  4D019CB10