特許

J-GLOBAL ID：200903034716817030

被検出物の形状における欠損検出方法および装置

発明者： 竹川 恵清
出願人/特許権者： ニチモウ株式会社
代理人 (1件)： 中尾 俊輔 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-315416
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133233
出願日： 1999年11月05日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
要約：

【要約】【課題】 豆腐、コンニャク等の直方体形状の被検出物の形状における欠損を、パッケージ容器に収納する前に機械的に検出するための欠損検出方法および装置を提供すること。【解決手段】 搬送手段11,12により検出位置に搬送される被検出物Tに対し、斜め上方から前記被検出物Tの上表面にその搬送方向に直交する方向に一直線に照準する光束を得るように光を照射し、その前記光束のライン形状を前記検出位置の上部から二次元的に把握し、正常な形状の被検出物Tに照射した場合に得られる前記光束の二次元的なライン形状と比較することで被検出物Tの形状における欠損を検出する。

請求項（抜粋）：

搬送手段により検出位置に搬送される被検出物に対し、斜め上方から前記被検出物の上表面にその搬送方向に直交する方向に一直線に照準する光束を得るように光を照射し、その前記光束のライン形状を前記検出位置の上部から二次元的に把握し、正常な被検出物に照射した場合に得られる前記光束の二次元的なライン形状と比較することで被検出物の形状における欠損を検出することを特徴とする被検出物の形状における欠損検出方法。

IPC (3件)：

G01B 11/30 ,  A23L 1/20 104 ,  G01N 21/892

FI (3件)：

G01B 11/30 A ,  A23L 1/20 104 Z ,  G01N 21/892 Z

Fターム (38件)：

2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065BB15 ,  2F065CC00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL08 ,  2F065LL28 ,  2F065LL30 ,  2F065MM03 ,  2F065PP15 ,  2F065QQ21 ,  2F065RR05 ,  2F065SS11 ,  2F065TT01 ,  2F065TT03 ,  2G051AA01 ,  2G051AA33 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051BA10 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051FA10 ,  4B020LB02 ,  4B020LC10 ,  4B020LP30