特許
J-GLOBAL ID:200903034727725803
キャビティ寿命分光法のためのアナログ検出
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
園田 吉隆 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-606981
公開番号(公開出願番号):特表2002-540394
出願日: 1999年07月20日
公開日(公表日): 2002年11月26日
要約:
【要約】リング-ダウン・レートないし減衰率を測定するためのアナログ検出システムにおいて、検出されたアナログ信号(163)を処理サブ-システム(108)に送る。処理サブ-システム(108)は、指数関数的に減衰するアナログ信号をリニアのアナログ信号に変換する変換器(166)と、それの傾きを得る微分(170)と、信号(168)の傾きの値を受けて減衰率を得るアナログ減衰率判定回路(172)とを備える。
請求項(抜粋):
リング-ダウン期の間にリング-ダウン・キャビティから出てくる指数関数的に減衰するリング-ダウン・ビームの減衰率を測定するためのアナログ検出システムであって、a)前記リング-ダウン・ビームを受けると共に指数関数的に減衰するアナログ信号を発生する光検出器と、b)前記指数関数的に減衰するアナログ信号を、前記減衰率を示す傾きを有するリニアなアナログ信号に変換する変換器と、c)前記傾き及び前記減衰率を判定するアナログ信号処理回路と を有するアナログ検出システム。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/27 Z
, G01J 3/42 U
Fターム (31件):
2G020AA03
, 2G020BA02
, 2G020BA12
, 2G020CA02
, 2G020CB23
, 2G020CB42
, 2G020CC30
, 2G020CD04
, 2G020CD13
, 2G020CD24
, 2G020CD34
, 2G020CD36
, 2G020CD51
, 2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC04
, 2G059EE01
, 2G059EE04
, 2G059EE12
, 2G059EE16
, 2G059GG01
, 2G059GG07
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059JJ24
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM09
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