特許
J-GLOBAL ID：200903034758528640
実装基板検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-023112
公開番号（公開出願番号）：特開平6-243235
出願日： 1993年02月12日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】基板、電子部品、クリーム半田などの色の差を充分な分解能で見分け、部品や半田の有無や位置ずれなどを安定して検査する。【構成】エリアセンサカメラ22により基板1を撮像する。撮像に際して、入射光量制御部20によりあらかじめ定められた光量で同一部分を明暗2種類の画像として撮像する。撮像された画像はRGB別にフレームメモリ14に蓄えられ、この画像データは制御部19によって制御されるセレクタ15により時分割でカラー画像処理部16に渡される。カラー画像処理部16では明画像に対して色座標変換を行い、部品毎に用意されている2値化しきい値に応じて2値処理を行う。また、暗画像に対しては、同様に色座標変換を行った後濃淡画像であるY信号のみを出力する。次いで、フレームメモリ17において前記2値画像と濃淡画像を合成し、認識処理部18において濃淡認識を行う。
請求項（抜粋）：
基板に実装された電子部品や、印刷されたクリーム半田を複数色のカラー画像撮像手段を用いて検査する検査装置であって、検査対象に応じた最適な入射光量をあらかじめ記憶した記憶手段と、カラー画像撮像手段に入射する光量を前記記憶手段から読みだし検査対象に応じて切り換える手段と、撮像画像にカラー画像処理を施し特定色を2値画像として抽出する機能とカラー画像を濃淡画像に変換する機能を持つカラー画像処理手段と、数段階の光量で撮像された後前記カラー画像処理手段により2値化された画像と濃淡画像を合成する手段を備えたことを特徴とする実装基板検査装置。
IPC (4件)：
G06F 15/62 405
, G01N 21/88
, G06F 15/64 325
, H05K 3/34
