特許

J-GLOBAL ID：200903034778854942

輪郭抽出方法及び装置

発明者： 石田 良弘
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 丸島 儀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-272701
公開番号（公開出願番号）：特開平5-108823
出願日： 1991年10月21日
公開日（公表日）： 1993年04月30日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】8連結の画素領域の輪郭点を抽出する場合の規則につき、斜め方向に連結する2つの画素間に設定する2つの輪郭点の、抽出法を提供する。【構成】注目画素毎に近傍画素の状態に基づいて、該注目画素と該近傍画素間に輪郭線を構成する点をそれぞれ高々一点まで設定し、該輪郭線を構成する点の接続方向を決定する工程と、前期輪郭線を構成する点と輪郭線を構成する他の点との接続状態を判断する工程とを有し、前期注目画素の位置をラスター走査順に画像データ上に設定して、注目画素毎に近傍画素の状態に基づいて上記工程を実行し、輪郭点を抽出することができる輪郭抽出方法である。画素eの位置の画素近傍の処置を行うステップS0001。画素Cの位置の画素近傍の処理を行うステップS0002。Aの位置の画素近傍の処理を行うステップS0003。Bの位置の画素近傍の処理を行うステップS0004。これからケース00へ戻る。

請求項（抜粋）：

注目画素毎に近傍画素の状態に基づいて、該注目画素と該各近傍画素間に輪郭線を構成する点をそれぞれ高々一点まで設定し、該輪郭線を構成する点の接続方向を決定する工程と、前記輪郭線を構成する点と輪郭線を構成する他の点との接続状態を判断する工程とを有し、前記注目画素の位置をラスター走査順に画像データ上に設定して、注目画素毎に近傍画素の状態に基づいて上記工程を実行し、輪郭点を抽出することを特徴とする画像の輪郭抽出方法。