特許

J-GLOBAL ID：200903034808112547

ネジ欠陥検査装置

発明者： 安藤 志貴男
出願人/特許権者： 日本電装株式会社
代理人 (1件)： 足立 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-099566
公開番号（公開出願番号）：特開平6-307829
出願日： 1993年04月26日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】 ネジ先端面取部の欠陥等も好適に検出できるネジ欠陥検査装置を提供すること。【構成】 ステップ120では、ネジの原画像を作成し、ステップ130では、原画像の反転画像を作成し、ステップ140では、原画像を1ピッチ分下方へシフトして後画像を作成する。そして、ステップ150では、反転画像と後画像とを重ね合わせ、即ち画像メモリ間演算(A NOR B)を行なって、重なり部分(欠陥部)を抽出する。ステップ200では、各面積和Pnの最大値Pmとトータル値Ptを求める。ステップ210では、最大値Pmを基準値PmLと比較し、最大値Pmが基準値PmL以上であればネジ1に欠陥があると判定する。また、トータル値Ptを基準値PtLと比較し、トータル値Ptが基準値PtL以上であれば、ネジ1の一部が未加工であると判定する。

請求項（抜粋）：

ネジを撮影した画像を入力し、該画像に基づいてネジの欠陥を検出するネジ欠陥検査装置において、前記ネジの原画像を画像情報として作成する原画像作成手段と、該原画像作成手段によって作成された原画像を反転して、ネジの反転画像を作成する反転画像作成手段と、前記原画像作成手段によって作成された原画像を所定ピッチ分ずらして、ネジの後画像を作成する後画像作成手段と、該後画像作成手段によって作成された後画像と前記反転画像作成手段によって作成された反転画像とを重ね合わせて、両画像の干渉部分を求める画像比較手段と、該画像比較手段によって得られた両画像の干渉部分に基づいて、ネジの欠陥を検出するネジ欠陥検出手段と、を備えたことを特徴とするネジ欠陥検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01B 21/20 102 ,  G01N 21/88

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭61-076941
  
• 特開昭54-019366