特許

J-GLOBAL ID：200903034835269628

金属材料の損傷評価方法

発明者： 清水 正嗣 ,  岩本 啓一 ,  西村 宣彦 ,  青木 清隆 ,  馬田 政寛 ,  尾崎 政司
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 藤田 考晴 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-195379
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014705
出願日： 2001年06月27日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：

【要約】【課題】 従来の超音波探傷法よりも微少なきずを検出することができるとともに、直接的に内部の損傷程度を評価することができる金属材料の損傷評価方法を提供すること。【解決手段】 金属材料のきずを評価する方法であって、フェーズド・アレイ法を用いて前記金属材料内部のきずによる反射エコー高さを検出し、該検出された反射エコー高さを、予め導出しておいた反射エコー高さとクリープボイド個数密度との対応データに照会することによって、前記検出された反射エコー高さに対応するクリープボイド個数密度を求め、さらに、クリープボイド個数密度とクリープ損傷量とを対応づけたデータベースに基づき、前記金属材料におけるクリープボイド個数密度から前記金属材料におけるクリープ損傷量を求めることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

金属材料のきずを評価する方法であって、フェーズド・アレイ法を用いて前記金属材料内部のきずによる反射エコー高さを検出し、該検出された反射エコー高さを、予め導出しておいた反射エコー高さとクリープボイド個数密度との対応データに照会することによって、前記検出された反射エコー高さに対応するクリープボイド個数密度を求め、さらに、クリープボイド個数密度とクリープ損傷量とを対応づけたデータベースに基づき、前記金属材料におけるクリープボイド個数密度から前記金属材料におけるクリープ損傷量を求めることを特徴とする金属材料の損傷評価方法。

IPC (3件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/20 ,  G01N 33/20

FI (3件)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/20 ,  G01N 33/20 N

Fターム (16件)：

2G047AA06 ,  2G047AB07 ,  2G047BA03 ,  2G047BC03 ,  2G047BC07 ,  2G047BC08 ,  2G047BC11 ,  2G047BC14 ,  2G047EA10 ,  2G047GB02 ,  2G047GG33 ,  2G047GG36 ,  2G055AA03 ,  2G055BA07 ,  2G055EA08 ,  2G055FA08