特許
J-GLOBAL ID：200903034854289230
表面探傷装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-107035
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296956
出願日： 1992年04月24日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：
【要約】【目的】金属に限らず非金属の被検材も表面探傷の対象にでき、また、狭間部或は遠隔地点の表面探傷が容易に行え、しかも画像等により表面欠陥を記録しておくことができ、更に一部分を重点的に検査することも可能とする。【構成】表面探傷装置は、被検材1の表面をレーザ光26で加熱する加熱装置21と、この加熱により被検材1から放射される赤外線29を検出する赤外線検出装置22と、この赤外線検出装置22で得られた信号から表面欠陥を検出する表面欠陥検出装置23とを包含する。
請求項（抜粋）：
被検材の表面をレーザ光で加熱する加熱装置と、この加熱により前記被検材から放射される赤外線を検出する赤外線検出装置と、この赤外線検出装置で得られた信号から表面欠陥を検出する表面欠陥検出装置とを備えたことを特徴とする表面探傷装置。
IPC (3件)：
G01N 25/72
, G01B 11/30
, G01N 21/88
