特許

J-GLOBAL ID：200903034922814136

位相差顕微鏡

発明者： 星野 吉弘 ,  長澤 潔
出願人/特許権者： 日立建機株式会社
代理人 (1件)： 影井 俊次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-160099
公開番号（公開出願番号）：特開平5-333272
出願日： 1992年05月28日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】【目的】 位相差顕微鏡における被観察物の状態や、被観察物の結像倍率等の観察条件を変更時に、交換すべき部材の数を減らすことによって、その交換作業を容易にする。【構成】 光源1側から順に、開口絞り部材10,コンデンサレンズ2a,被観察物5を装着した試料テーブル6,結像レンズ2b,位相板4及び結像面7が配設され、開口絞り部材10及び位相板4はそれぞれ光学系2の前側焦点位置と後側焦点位置に配設されている。開口絞り部材10は液晶パネルからなり、電圧の印加状態に応じて選択的に光を透過させることができるように構成したもので、コントローラ11により開口絞り部材10を構成する液晶パネルの電圧印加領域を制御することによって、絞り開口を任意の形状とすることができ、被観察物の状態や、被観察物の結像倍率等の観察条件を変更時における部材の交換作業が容易になる。

請求項（抜粋）：

光源から照射される照明光をコンデンサレンズにより平行光とした後に、透明な被観察物を透過させて、結像レンズによって像面に結像させるようになし、前記コンデンサレンズの前側焦点位置には開口絞り部材を配設すると共に、前記結像レンズの後側焦点位置には位相板を設けた位相差顕微鏡において、前記開口絞り部材を、その絞り開口パターンの形状を変更可能な液晶パネルで形成したことを特徴とする位相差顕微鏡。