特許
J-GLOBAL ID：200903034941548528
解析結果データ表示方式
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
熊谷 隆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-283743
公開番号（公開出願番号）：特開平5-101150
出願日： 1991年10月04日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：
【要約】【目的】 3次元構造体の任意の切断面を指定し、その切断面形状と、切断面上の物理量を重畳して画面表示できる解析結果デ-タ表示方式を提供すること。【構成】 本発明は、入力装置1、図形表示装置2、図形処理装置3、切断面状態記憶装置4、図形及び解析結果記憶装置5より構成される。図形処理装置3はCPU3-1、主メモリ3-2から構成され、図形処理部3-3、切断面指定処理部3-4、切断面図形処理部3-5より、X軸,Y軸,Z軸のいずれか2軸の原点からの距離で指定された切断面上の形状及びその面上の各種物理量を指定された状態で表示する構造になっている。
請求項（抜粋）：
入力装置、図形表示装置、図形処理装置、図形及び解析結果記憶装置を具備するCAD装置又は解析デ-タ表示装置の解析結果デ-タ表示方式において、3次元構造体のX軸,Y軸,Z軸のいずれか2軸の原点からの距離を指定して切断面を指定する切断面指定処理部と、該切断面上の各種物理量の状態を指定した形態で表示処理する切断面図形処理部と、3次元の解析結果デ-タを2次元解析デ-タのイメ-ジに変換した状態を記憶させる切断面状態記憶装置を設け、3次元空間に分布する物理量の解析結果デ-タから指定断面上における値を計算で補間して求め、切断面形状と切断面上の解析結果デ-タを重畳して画面上に表示することを特徴とする解析結果デ-タ表示方式。
IPC (2件)：
G06F 15/60 400
, G06F 3/153 320
