特許

J-GLOBAL ID：200903034946614413

半導体装置

発明者： 藤原 睦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-331819
公開番号（公開出願番号）：特開2000-155153
出願日： 1998年11月24日
公開日（公表日）： 2000年06月06日
要約：

【要約】【課題】 検査装置でLSIの測定を行う時に、検査装置の測定端子数より多数の端子をもつLSIにおいて、測定端子をリレー等で切り替えて行っていた従来の測定方式を改良するものである。【解決手段】 LSIパッド1,2の間に端子間の切り替え回路SW1を、IN2の前段に切り替え回路SW2を、それぞれLSI内部に内蔵させて配置し、テスト制御部の制御信号Cのレベルにより、切り替え回路は入力された信号をそのまま伝播させるか、伝播させないかを選択して機能ブロックA,Bを選択的にドライブ可能にする。これによりテスト時には端子を共有化でき、共有端子の片側のみに検査装置の配線を行うだけで良くなり、測定用ボードの作成が容易になる。更にはリレーの開閉のために要していた時間も不要となるのでテスト時間を大幅に短縮できる。

請求項（抜粋）：

単体検査において全ての端子を同時に且つ単独に制御する必要のない半導体装置において、各機能を検査する時に単独に制御する必要のない端子間に、入力された信号をそのまま伝播させるか伝播させないかを制御信号のレベルにより選択できるセレクト回路を、端子の切り替え回路として内蔵した半導体装置。

Fターム (9件)：

2G032AA00 ,  2G032AD05 ,  2G032AK14 ,  2G032AK15 ,  9A001BB05 ,  9A001CC01 ,  9A001HH34 ,  9A001KK37 ,  9A001LL05