特許

J-GLOBAL ID：200903034955194400

ダイヤモンド検査装置

発明者： 土渕 毅
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (2件)： 喜多 俊文 ,  江口 裕之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-161799
公開番号（公開出願番号）：特開2009-002703
出願日： 2007年06月19日
公開日（公表日）： 2009年01月08日
要約：

【課題】指輪やネックレスに加工された状態のダイヤモンドを台座などから外すことなく直接検査できる検査装置を提供する。【解決手段】試料ホルダー1は、試料2の特定の表面aが入射光に対して垂直あるいはその近傍になるように試料2の台座26を保持し、ステージ4に載置される。干渉計を備えたFTIR5で発生する赤外光が試料2に入射し、試料2の内部で全反射して前記試料2の特定の表面aより出射する。この出射した赤外光を半導体検出器8で検出しデータ処理し、赤外スペクトルを得る。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

赤外光をダイヤモンドの特定の表面に照射し、照射後反射して出射した反射赤外光を検出器に導入してダイヤモンドの検査を行うダイヤモンド検査装置であって、前記特定の表面との挟角が45度の2個の傾斜面が形成されたダイヤモンドと、赤外光が特定の表面に所定方向から入射するよう前記ダイヤモンドを保持する保持手段と、前記両傾斜面で順次全反射し特定の表面から出射した赤外光を検出する検出器を備えたことを特徴とするダイヤモンド検査装置。

IPC (1件)：

G01N 21/87

FI (1件)：

G01N21/87

Fターム (12件)：

2G051AA81 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA06 ,  2G051BA08 ,  2G051BB03 ,  2G051BB11 ,  2G051BB17 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051CC17 ,  2G051DA07

引用特許：

出願人引用 (2件)

• ダイヤモンドの検査
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平7-519433   出願人：ゲルザンエスタブリッシュメント
• ダイヤモンドの検査
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平8-509300   出願人：ゲルザンエスタブリッシュメント